对氧化锌压敏电阻在大电流下破坏机理的研究得出了下述结果[4]；在大电流作用下，压敏电阻的破坏模式有两种，当大冲击电流的时间宽度不大于50μs时（例如4/10和8/20波），电阻体开裂；当电流值较小而时间宽度大于100μs时（例如10/350、10/1000和2ms波），电阻体穿孔。两种不同破坏模式可以这样解释：时间很短的大电流在电阻体内产生的热量来不及向周围传导，是个绝热过程，加上电阻体的不均匀使电流的分布不均匀，这样电阻体不同部位之间的温差很大，形成很大的热应力而使电阻体开裂。当冲击电流的作用时间较长时，电阻体不均匀造成的电流集中，使电阻体材料熔化而形成穿孔。
使用压敏电阻体破坏的电流密度J(A·cm-2)与冲击电流波的时间宽度r（μs）之间的关系，在双对数坐标中大体为一条斜率为负值的直线，因而可用下面的方程式来表达：
logJ=C－Klogr
式中，C和K是与具体器件相关的两个常数，可以根据实验资料推算出来，于是就可以计算出这种产品能够承受的不同波形冲击电流的峰值了。
综上所述，对于以压敏电阻作为非线性抑制元件的SPD，为进行不同波形冲击电流之间的等效变换，应以两种不同波形（例8/20、10/350）的冲击电流对所选定的压敏电阻进行试验，分别得出使试样失效的两个电流峰值，代入上式，求得常数C和K的具体数值，然后利用该公式进行计算。试验式不一定进行到样品开裂或穿孔，可将压敏电压变化达到-10%作为失效判据。
应当指出，就是不同企业、不同批次的压敏电阻器，尽管尺寸规格相同，但实际能承受的冲击电流（能量）的水平可能相差很大，因此必须对每批供货逐批抽样检验。
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