电容式电压互感器(简称CVT)的分压电容C2电容量很大，如TYD110／
-0.015的C2为70～75nF。而500kV CVT的分压电容(C2)的电容量高达140nF。按图1测量C2的介质损耗时，必须注意测量时接触应良好，否则将带来较大的测量误差。 2的电容量和介质损耗原理接线图。测量引线CX接于C2下端δ点的接线螺栓上。试品为TYD110／-0.015，其3相介质损耗的测量值分别为：
2=0.52%；
2=0.49%；
2=0.47%
2≤0.2%(膜纸绝缘耦合电容器的介质损耗应不大于0.2%)。现场对上述三台CVT进行了更换。
X、RX并联，其等值介质损耗为tanδX=1/WCXRX。
J。按图2等效电路，实测介质损耗为tanδ′X。
XRJ即为偏大的测量误差。由于TYD110／-0.015的分压电容C2电容量一般为70～75nF，当RJ=200kΩ时，ωCXRJ≈0.5%；当RJ=85Ω时，ωCXRJ=0.2%，即达到《电力设备预防性试验规程》的规定值。而对500kV CVT由于分压电容C2≈140nF，当RJ=45Ω时，ωCXRJ=0.2%。也就是说，对此类大电容而介质损耗标准很小的试品，测量时，必须注意由于接触不良引起的偏大的测量误差。稍不注意就可能使分压电容C2的介质损耗tanδC2超过规程的规定值0.2%。所以当CVT分压电容C2的介质损耗超出规程时，要检查试验接线是否接触良好。
X仅为几百微微法(如套管、互感器等)所以一般即使有接触电阻RJ的影响，其值ωCXRJ均很小亦可以忽略不计。而对于一些大电容试品(如变压器绕组间或绕组对地电容)其介质损耗的标准相对较大(最小值为0.8%)，所以ωCXRJ的影响相对亦小一些。往往不会使实测tanδ超过规程的规定值。
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