低压无功补偿装置不宜频繁投切
2.3 使电容器的局部放电加剧，促进绝缘老化和电容量衰减
自愈式低电压并联电容器的局部放电性能是比较差的，作者曾进行过一些局部放电测试，某些试品的局部放电起始电压仅为250V，而且有的局部放电量达数千微微库，这一点与西容所的测试结论(3)是相符的。
在GB/12747-1991与IEC831(1998)中，虽然没有对自愈式电容器提出进行局部放电试验的要求，但产品的质量的确与其局部放电水平有很大关系。
文献［3］指出，在进行耐久性试验被淘汰的一些试品中，局放性能相对好一些的试品，其经受耐久性试验的时间就长一些，也就是寿命相对长一些。国外产品也同样，例如，南朝鲜的产品质量反映较差，其局放性能相对也较差，这充分说明产品质量与其局放性能的关系。
自愈式电容器的局放性能较差是由它的结构和工艺所决定的。[FS:PAGE]
(1)元件是用单层介质经紧密绕卷而成，然后在用热处理工艺，使薄膜收缩以提高元件的紧密度，其目的是尽可能排除极板间的空气与水分，并防止在喷金时造成短路，这方法不可能全部驱除空气。
(2)为了保证元件端头喷金与极板接触良好,元件的结构采用错位卷绕,我们公司错位为1mm.所以端头两层薄膜间空隙存在空气。
(3)即使采用真空浸渍，元件内部的空气不能全部排除，绝缘油也不能浸入，只能改善元件端部的场强。
对于铝金属化膜来说，在电场的电化学作用下，由于存在空气和水份，极板会氧化而生成透明Al
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3圆点和极板边缘侵蚀。Al
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3是不导电的绝缘体，从而减少了极板面积。
文献
［5］对铝金属化膜在局部放电作用下，发生极板边缘的损坏现象进行了试验研究，他们在试验中观察到在非金属化膜和金属化膜接触区域由于空气隙的存在，引起的干涉图象，空气隙的位置跟金属化局部破坏区域相吻合。说明金属化层破坏过程跟在局部放电时的氧化有关。他们认为，边缘破坏首先是由它的气体放电产生的离子轰击引起的，在有足够数量的氧气存在时，离子轰击导致极板边缘等离子化学的氧化过程。
在电容器频繁投切而产生的过电压作用下，电容器的局部放电不断得到激发而加剧，其结果必然对绝缘介质的老化和电容量的衰减起促进作用。
3 冲击过电流对自愈式并联电容器的影响
3.1 使喷金层与金属化层的接触状况变坏，甚至出现喷金层脱落。
图5是自愈式电容器的元件端部喷金示意图，由图可知，端部喷金是 作为电极引出的。由于 金属化层很薄，一般仅0.02μm左右，喷金层也不厚，例如我们公司控制在0.5～0.8mm,所以它们之间的接触仍很薄弱，若工艺中不注意，就容易造成接触不良。
