摘 要 对全膜绝缘介质电容器进行直流耐压试验的危害进行了理论分析和试验研究，结果表明全膜绝缘介质电容器进行直流耐压试验，无论是电压分布的机理，还是试验效果同交流都是不一样，直流耐压试验中将发生故障元件检出率低和电压分布不均匀等现象，并导致绝缘良好的元件击穿。建议全膜电容器不使用直流耐压试验。
关键词 电力电容器 全膜绝缘介质 直流耐压试验
Harm of Voltage Withstand Test on Power Capacitors
Abstract Theoretical analysis and experiment about DC voltage withstand test on power capacitors are described in this paper. The mechanism of voltage distribution and the effects on film capacitors in DC test and AC test are different. The detection efficiency is lower and the voltage distribution is nonuniform in DC test. Breakdown may be leaded. The DC voltage withstand test on film capacitors should be prohibited.
Key words power capacitor film dielectric DC voltage withstand test
林浩 1965年生，1986年毕业于武汉水利电力大学，工程师，从事高压电器绝缘研究。
林浩（国家电力公司武汉高压研究所 武汉430074）
倪学锋（国家电力公司武汉高压研究所 武汉430074）
张浩奋（合阳电力电容器有限公司 合阳715322）
贾申龙（合阳电力电容器有限公司 合阳715322）
参考文献
1，GB/T 12802电容器用聚丙烯薄膜.1996
